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Existence de flips et de modèles minimaux pour les variétés de dimension 3 en caractéristique p

Existence of flips and minimal models for 3-folds in char p

Caucher BIRKAR
Existence de flips et de modèles minimaux pour les variétés de dimension 3 en caractéristique $p$
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  • Année : 2016
  • Fascicule : 1
  • Tome : 49
  • Format : Électronique
  • Langue de l'ouvrage :
    Anglais
  • Class. Math. : 14E30
  • Pages : 169-212
  • DOI : 10.24033/asens.2279

Étant donnée une paire (X,B) de dimension trois sur un corps algébriquement clos k de caractéristique p>5, nous prouvons les résultats suivants : existence de log-flips lorsque la paire est Q-factorielle et dlt ; existence de log-modèles minimaux lorsque la paire est klt, projective, et avec KX+B pseudo-effectif ; finitude de l'anneau log-canonique R(KX+B) lorsque la paire est klt, projective, et avec KX+B gros ; semi-amplitude pour un Q-diviseur nef et gros D, sous la condition que D(KX+B) est nef et gros et que (X,B) est klt et projective ; existence de modèles dlt et Q-factoriels lorsque la paire est lc ; existence de modèles terminaux lorsque la paire est klt ; validité de la Conjecture ACC pour le seuil lc, etc.

We will prove the following results for 3-fold pairs (X,B) over an algebraically closed field k of characteristic p>5 : log flips exist for Q-factorial dlt pairs (X,B) ; log minimal models exist for projective klt pairs (X,B) with pseudo-effective KX+B ; the log canonical ring R(KX+B) is finitely generated for projective klt pairs (X,B) when KX+B is a big Q-divisor ; semi-ampleness holds for a nef and big Q-divisor D if D(KX+B) is nef and big and (X,B) is projective klt ; Q-factorial dlt models exist for lc pairs (X,B) ; terminal models exist for klt pairs (X,B) ; ACC holds for lc thresholds, etc.

Flip, modèles minimaux, anneau log-canonique, seuil log-canonique, caractéristique p.
Flip, minimal model, log canonical ring, log canonical threshold, characteristic p.